Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Alvin W. (IBM) Strong,
Ernest Y. (IBM) Wu,
Rolf-Peter (Infineon) Vollertsen,
Spain) Jordi (Universitat Autonoma de Barcelona Sune,
Giuseppe (IBM) La Rosa,
Timothy D. (IBM) Sullivan,
Stewart E. Rauch
Knihu koupíte v
1 e-shopu
Pokud se vám po kliknutí na tlačítko "Do obchodu" nezobrazí stránka knihy ve vybraném e-shopu, je třeba vypnout AdBlock ve vašem prohlížeči pro naši stránku.
Návod na vypnutí je například na adrese https://o.seznam.cz/jak-vypnout-adblock/#1.
Krátký popis
This invaluable resource tells the complete story of failure
mechanisms from basic concepts to the tools necessary to conduct
reliability tests and analyze the results. Both a text and a
reference work for this important area of semiconductor technology,
it assumes no reliability education or experience.
Výběr knih vydavatele
John Wiley & Sons Inc
Zobrazit všechny knihy vydavatele
John Wiley & Sons Inc
Naše tipy
- Právě probíhající akce a slevy na knihy
-
Slevový kód
AFKD300263Knihydobrovsky.cz | do 15.03.2026 -
Slevový kód
AFKD200263Knihydobrovsky.cz | do 15.03.2026 -
Slevový kód
AFKD100263Knihydobrovsky.cz | do 15.03.2026 -
Knihydobrovsky.cz | do 31.03.2026
-
Knihydobrovsky.cz | do 31.03.2026
-
Knihydobrovsky.cz | do 31.03.2026
-
Dobre-knihy.cz | do 31.03.2026
- zobrazit všechny akce
