Thin Film Analysis by X-Ray Scattering
Knihu koupíte v
1 e-shopu
Pokud se vám po kliknutí na tlačítko "Do obchodu" nezobrazí stránka knihy ve vybraném e-shopu, je třeba vypnout AdBlock ve vašem prohlížeči pro naši stránku.
Návod na vypnutí je například na adrese https://o.seznam.cz/jak-vypnout-adblock/#1.
Krátký popis
With contributions by Paul F. Fewster and Christoph Genzel While
X-ray diffraction investigation of powders and polycrystalline
matter was at the forefront of materials science in the 1960s and
70s, high-tech applications at the beginning of the 21st century
are driven by the materials science of thin films.
Vývoj ceny
Aktuální Ø cena knihy Thin Film Analysis by X-Ray Scattering je 4 089 Kč
Výběr knih vydavatele
Wiley-VCH Verlag GmbH
Zobrazit všechny knihy vydavatele
Wiley-VCH Verlag GmbH
Naše tipy
- Právě probíhající akce a slevy na knihy
-
Knihydobrovsky.cz | do 30.04.2026
-
Knihydobrovsky.cz | do 30.04.2026
-
Knihydobrovsky.cz | do 30.04.2026
-
Knihydobrovsky.cz | do 31.05.2026
-
Knihydobrovsky.cz | do 30.06.2026
- zobrazit všechny akce
