Electromigration Modeling at Circuit Layout Level
Knihu koupíte v
1 e-shopu
Pokud se vám po kliknutí na tlačítko "Do obchodu" nezobrazí stránka knihy ve vybraném e-shopu, je třeba vypnout AdBlock ve vašem prohlížeči pro naši stránku.
Návod na vypnutí je například na adrese https://o.seznam.cz/jak-vypnout-adblock/#1.
Krátký popis
Integrated circuit (IC) reliability is of increasing concern in
present-day IC technology where the interconnect failures
significantly increases the failure rate for ICs with decreasing
interconnect dimension and increasing number of interconnect
levels.
Výběr knih vydavatele
Springer Verlag, Singapore
Zobrazit všechny knihy vydavatele
Springer Verlag, Singapore
Naše tipy
